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日本JEOL鎢絲燈

更新時(shí)間:2024-06-25

簡(jiǎn)要描述:

日本JEOL鎢絲燈
用于JXA-iHP200F場(chǎng)發(fā)射 電子探針 顯微分析儀 (FE-EPMA)

型號(hào):MA113008廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商瀏覽量:438

 日本JEOL鎢絲燈MA113008

 日本JEOL鎢絲燈MA113008

用于電子探針 JXA-iHP200F 機(jī)器


核心參數(shù)

儀器種類(lèi):落地式/傳統(tǒng)大型

電子槍種類(lèi):熱場(chǎng)發(fā)射

產(chǎn)地類(lèi)別:進(jìn)口

二次電子圖象分辨率:2.5nm

放大倍數(shù):40-300,000

加速電壓:1-30kV

背散射電子圖像分辨率:高襯度

最大樣品尺寸:100mmX100mmX50mmH

樣品室可拓展接口數(shù)量:多個(gè)

樣品臺(tái):五周馬達(dá)驅(qū)動(dòng)

檢測(cè)器系統(tǒng):背散射探頭、波譜儀、能譜儀


電子探針顯微分析儀越來(lái)越多地被用作鋼鐵、汽車(chē)、電子元件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域的研發(fā)和質(zhì)量保證工具。 它還廣泛應(yīng)用于地球和行星科學(xué)以及材料科學(xué),

并有望為各種前沿研究做出貢獻(xiàn),例如礦物和材料研究等資源和能源研究,以及各種新材料的材料研究。 相應(yīng)地,在保持較高的局部痕量元素分析性能的同時(shí),

要求每個(gè)人都“輕松"和“快速"地使用儀器。

JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA,經(jīng)過(guò)進(jìn)一步改進(jìn),可滿(mǎn)足這些需求,并使從觀察到分析的操作更加高效。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer的縮寫(xiě)。


電子探針是電子光學(xué)產(chǎn)品中*進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析的儀器,利用波譜的高分辨率和能譜的高速度,可以很快將材料中的成份進(jìn)行精準(zhǔn)分析。

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